[1] Miao G., Xiao G., Gupta A., Phys. Rev. B, 2005, 71, 094418 [2] Li H. B., Xu S. C., Liu M., Feng M., Yin J. Z., Chem. Res. Chinese Universities, 2010, 26(3), 344[3] Cheng Y. H ., Li L. Y., Wang W. H., Luo X. G., Liu H., Zheng R. K., J. Appl. Phys., 2011, 109, 073905[4] Cao J. G., Li J. J., Duan H. F., Lin Y. J., Chem. Res. Chinese Universities, 2012, 28(4), 590[5] Kämper K. T., Schmitt W., Gntherodt G., Gambino R. J., Ruf R., Phys. Rev. Lett., 1987, 59, 2788[6] Ji Y., Strijkers G. J., Yang F. Y., Chien C. L., Byers J. M., Anguelouch A., Xiao G., Gupt A., Phys. Rev. Lett., 2001, 86, 5585[7] Soulen R. J., Byers J. M., Osofsky M. S., Nadgorny B., Ambrose T., Cheng S. F., Broussard P. R., Tanaka C. T., Nowak J., Moodera J. S., Barry A., Coey J. M. D., Science, 1998, 282, 85[8] Jeng H. T., Guo G. Y., J. Appl. Phys., 2002, 92, 951[9] Son J. Y., Cho J. H., Nanotechnology, 2007, 18, 165503[10] Rameev B. Z., Yilgin R., Aktas B., Gupta A., Tagirov L. R., Microelectron. Eng., 2003, 69, 336[11] Stampe P. A., Kennedy R. J., Watts S. M., Molnar S. V., J. Appl. Phys., 2001, 89, 7696 [12] Rüdiger U., Rabe M., Samm K., Özyilmaz B., Pommer J., Fraune M., Güntherodt G., Senz S., Hesse D., J. Appl. Phys., 2001, 89, 7699 [13] Doucettea L. D., Christensenb T. M., Desistoa W. J., Lad R. J., J. Cryst. Growth, 2006, 290, 653 [14] Zhao Q., Yuan J. J., Wen G. H., Zou G. T., J. Magn. Magn. Mater., 2008, 320, 2356.[15] Chen Y. P., Ding K., Yang L., Xie B., Song F. Q., Wan J. G., Wang G. H., Han M., Appl. Phys. Lett., 2008, 92, 173112[16] Li X. W., Gupta A., Xiao G., Appl. Phys. Lett., 1999, 5, 713[17] Desisto W. J., Broussard P. R., Ambrose T. F., Nadgorny B. E., Osofsky M. S., Appl. Phys. Lett., 2000, 76, 3789[18] Bullen H. A., Garrett S. J., Chem. Mater., 2002, 14, 243[19] Dho J., Kim D. H., Kwon D., Kim B. G., J. Appl. Phys., 2008, 104, 063528 [20] Huang X., Yan X. H., Zhu Z. H., Yang Y. R., Guo Y. D., J. Appl. Phys., 2011, 109, 064319[21] Babelon P., Dequiedt A. S., Mostefa-Sba H., Bourgeois S., Sibillot P., Sacilotti M., Thin Solid Films, 1998, 322, 63[22] Gauthier V., Bourgeois S., Sibillot P., Maglione M., Sacilotti M., Thin Solid Films, 1999, 340, 175[23] König C., Fonin M., Laufenberg M., Biehler A., Bührer W., Kläui M., Rüdiger U., Güntherodt G., Phys. Rev. B, 2007, 75, 144428[24] Korotin M. A., Anisimov V. I., Khomskii D. I., Sawatzky G. A., Phys. Rev. Lett., 1998, 80, 4305 |