[1] Luther J. M., Law M., Beard M. C., Song Q., Reese M. O., Ellingson R. J., Nozik A. J., Nano Lett., 2008, 8, 3488
[2] Wise F. W., Acc. Chem. Res., 2000, 33, 773
[3] Khanna P. K., Singh N., Charan S., Viswanath A. K., Patil K. R., Mater. Res. Bull., 2007, 42, 1414
[4] Baek I. C., Seok S. I., Pramanik N. C., Jana S., Lim M. A., Ahn B. Y., Lee C. J., Jeong Y. J., J. Colloid Interf. Sci., 2007, 310, 163
[5] Moreels I., Fritzinger B., Martins J. C., Hens Z., J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 15081
[6] Chen S. T., Zhang X. L., Hou X. M., Zhou Q., Tan W. H., Cryst. Growth Des., 2010, 10, 1257
[7] Schaller R. D., Agranovich V. M., Klimov V. C., Nat. Phys., 2005, 1, 189
[8] Prabahar S., Suryanarayanan N., Rajasekar K., Srikanth S., Chalcogenide Letters, 2009, 6, 227
[9] Arivazhagan V., Parvathi M. M., Rajesh S., Archives of Physics Research, 2011, 2, 48
[10] Ma D. W., Cheng C., Journal of Alloy and Compounds, 2011, 509, 6595
[11] Hodes G., Physical Chemistry Chemical Physics, 2007, 9, 2181
[12] Ivanova Y. A., Ivanou D. K., Streltsov E. A., Electrochim. Acta, 2008, 53, 5051
[13] Aradilla D., Estrany F., Aleman C., J. Phys. Chem. C, 2011, 115, 8430
[14] Gudavarthy R. V., Gorantla S., Mu G. J., Kulp E. A., Gemming T., Eckert J., Switzer J. A., Chem. Mater., 2011, 23, 2017
[15] Chen L. Y., Tang Y. H., Wang K., Liu C. B., Luo S. L., Electrochem. Comm., 2011, 13, 133
[16] Yao C. Z., Tong Y. X., Ma H. X., Gong Q. J., Meng L. X., Yao J. H., Xia D. C., J. Electrochem. Soc., 2010, 157, D503
[17] Li X., Li J. H., Li S. J., Fang X., Fang F., Chu X. Y., Wang X. H., Hu J. X., Chem. Res. Chinese Universities, 2013, 29(6), 1032
[18] Li Y. Y., Rao L., Jiang Y. X., Liu Z. L., He C., L., Zhang B. W., Sun S. G., Chem. J. Chinese Universities, 2013, 34(2), 408
[19] Li G. R., Yao C. Z., Lu X. H., Zheng F. L., Feng Z. P., Yu X. L., Su C. Y., Tong Y. X., Chem. Mater., 2008, 20, 3306
[20] Fukami K., Nakanishi S., Yamasaki H., Tada T., Sonoda K., Kamikawa N., Tsuji N., Sakaguchi H., Nakato Y., J. Phys. Chem. C, 2007, 111, 1150
[21] Luca V., Djajanti S., Howe R. F., J. Phys. Chem. B, 1998, 10, 10650 |