[1] Major S., Kumar S., Bhatanagar M., Chopra K. L., Appl. Phys. Lett., 1986, 49(7), 394
[2] Yoo J. B., Fahrenbruch A. L., Bube R. H., J. Appl. Phys., 1990, 68(9), 4694
[3] Sato H., Minami T., Tamura Y., Takata S., Mouri T., Ogawa N., Thin Solid Films, 1994, 246(1/2), 86
[4] Olson D. C., Piris J., Collins R. T., Shaheen S. E., Ginley D. S., Thin Solid Films, 2006, 496(1), 26
[5] Park S. H., Kim S. H., Han S. W., Nanotechnology, 2007, 18, 055608
[6] Zhang T., Dong W., Keeter-Brewer M., Konar S., Njabon R. N., Tian Z. R., J. Am. Chem. Soc., 2006, 128(33), 10960
[7] Zhang T., Dong W., Njabon R. N., Varadan V. K., Tian Z. R., J. Phys. Chem. C, 2007, 111(37), 13691
[8] Maldonado A., Tirado-Guerra S., Cazares J. M., Olvera M. de la L., Thin Solid Films, 2010, 518(7), 1815
[9] Wang L., Zheng Y., Li X., Dong W., Tang W., Chen B., Li C., Li X., Zhang T., Xu W., Thin Solid Films, 2011, 519(16), 5673
[10] Zhang Y., Inorg. Chem., 1982, 21(11), 3889
[11] Jana S., Vuk A. S., Mallick A., Orel B., Biswas P. K., Mater. Res. Bull., 2011, 46(12), 2392
[12] Hu J., Gordon R. G., J. Electrochem. Soc., 1992, 139(7), 2014
[13] Wenas W. W., Yamada A., Takahashi K., J. Appl. Phys., 1991, 70(11), 7119
[14] Wenas W. W., Yamada A., Konagai M., Takahashi K., Jpn. J. Appl. Phys., 1991, 30, L441
[15] Chen X. L., Xu B. H., Xue J. M., Zhao Y., Wei C. C., Sun J., Wang Y., Zhang X. D., Geng X. H., Thin Solid Films, 2007, 515(7/8), 3753
[16] Liu X. D., Jiang E. Y., Li Z. Q., J. Appl. Phys., 2007, 102(7), 073708
[17] Minami T., Sato H., Nanto H., Takata S., Jpn. J. Appl. Phys., 1985, 24, L781
[18] Gao L., Zhang Y., Zhang J. M., Xu K. W., Appl. Surf. Sci., 2011, 257(7), 2498
[19] Faÿ S., Steinhauser J., Oliveira N., Thin Solid Films, 2007, 515(24), 8558
[20] Kumar V., Singh R. G., Singh F., Purohit L. P., J. Alloy. Compd., 2012, 544, 120
[21] Kumar V., Singh R. G., Purohit L. P., Mehra R. M., J. Mater. Sci. Technol., 2011, 27(6), 481
[22] Tahar R. B. H., Tahar N. B. H., J. Mater. Sci., 2005, 40(19), 5285
[23] Lin J. P., Wu J. M., Appl. Phys. Lett., 2008, 92(13), 134103
[24] Wen S., Campet G., Chin. J. Appl. Chem., 1996, 13(2), 115 |