[1] Manfrinato V. R., Camino F. E., Stein A., Zhang L. H., Lu M., Stach E. A., Black C. T., Adv. Funct. Mater., 2019, 29(52), 1903429 [2] Qin N., Qian Z. G., Zhou C. Z., Xia X. X., Tao T. H., Nat. Commun., 2021, 12(1), 5133 [3] Hu W. C., Sarveswaran K., Lieberman M., Bernstein G. H., J. Vac. Sci. Technol. B, 2004, 22(4), 1711 [4] Rommel M., Nilsson B., Jedrasik P., Bonanni V., Dmitriev A., Weis J., Microelectron. Eng., 2013, 110, 123 [5] Gangnaik A. S., Georgiev Y. M., Collins G., Holmes J. D., J. Vac. Sci. Technol. B, 2016, 34(4), 0416033 [6] Granata C., Esposito E., Vettoliere A., Petti L., Russo M., Nanotechnology, 2008, 19(27), 275501 [7] Li L., Yang S. M., Han F., Wang L. M., Zhang X. T., Jiang Z. D., Pan A., Sensors, 2014, 14(4), 7332 [8] Bolten J., Manecke C., Wahlbrink T., Waldow M., Kukz H., Microelectron. Eng., 2014, 123, 1 [9] Guerfi Y., Carcenac F., Larrieu G., Microelectron. Eng., 2013, 110, 173 [10] Chen Y. F., Microelectron. Eng., 2015, 135, 57 [11] Prasciolu M., Tamburini F., Anzolin G., Mari E., Melli M., Carpentiero A., Barbieri C., Romanato F., Microelectron. Eng., 2009, 86(4), 1103 [12] Welch M. E., Ober C. K., J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys., 2013, 51(20), 1457 [13] Strunk K.-P., Bojanowski N. M., Huck C., Bender M., Veith L., Tzschoppe M., Freudenberg J., Wacker I., Schroder R. R., Pucci A., Melzer C., Bunz U. H. F., ACS Appl. Nano Mater., 2020, 3(8), 7365 [14] Matsumoto H., Okabe T., Taniguchi J., Microelectron. Eng., 2020, 226, 111278 [15] Wieland M., Derks H., Gupta H., van de Peut T., Postma F., van Veen A. H., Zhang Y., Proc. SPIE, 2010, 7637, 76371Z [16] de Boer G., Dansberg M., Jager R., Peijster J. J. M., Slot E., Steenbrink S. W. H. K., Wieland M., Proc. SPIE, 2013, 8680, 86800O [17] Brandt P., Belledent J., Tranquillin C., Figueiro T., Meunier S., Bayle S., Fay A., Millequant M., Icard B., Wieland M. Proc. SPIE, 2014, 9049, 904915 [18] De Silva A., Felix N. M., Ober C. K., Adv. Mater., 2008, 20(17), 3355 [19] Yang D., Chang S. W., Ober C. K., J. Mater. Chem., 2006, 16(18), 1693 [20] Peng X. M., Wang Y. F., Xu J., Yuan H., Wang L. Q., Zhang T., Guo X. D., Wang S. Q., Li Y., Yang G. Q., Macromol. Mater. Eng., 2018, 303(6), 1700654 [21] De Silva A., Lee J. K., Andre X., Felix N. M., Cao H. B., Deng H., Ober C. K., Chem. Mater., 2008, 20(4), 1606 [22] Wei Q., Wang, L. Y., Chem. Res. Chinese Universities, 2015, 31(4), 585 [23] Kasai T., Higashihara T., Ueda M., J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem., 2013, 51(9), 1956 [24] Kudo H., Watanabe D., Nishikubo T., Maruyama K., Shimizu D., Kai T., Shimokawa T., Ober C. K., J. Mater. Chem., 2008, 18(30), 3588 [25] Yamamoto H., Tagawa S., Kozawa T., Kudo H., Okamoto K., J. Vac. Sci. Technol. B, 2016, 34(4), 041606 [26] Tanaka M., Rastogi A., Kudo H., Watanabe D., Nishikubo T., Ober C. K., J. Mater. Chem., 2009, 19(26), 4622 [27] Niina N., Kudo H., Oizumi H., Itani T., Nishikubo T., Thin Solid Films, 2013, 534, 459 [28] Yamamoto H., Kudo H., Kozawa T., Microelectron. Eng., 2015, 133, 16 [29] Liu J., Liu Z. P., Wang L. Y., Sun H., Chin. Sci. Bull., 2014, 59(11), 1097 [30] Nishikubo T., Kousuke A., Tsutsui K., Kishimoto S., J. Polym. Sci., Part A: Polym. Chem., 2001, 39, 1481 [31] Shi X., Prewett P., Huq E., Bagnall D. M., Robinson A. P. G., Boden S. A., Microelectron. Eng., 2016, 155, 74 [32] Frommhold A., Yang D. X., McClelland A., Xue X., Ekinci Y., Palmer R. E., Robinson A. P. G. Proc. SPIE, 2014, 9051, 905119 [33] Chen J. P., Hao Q. S., Wang S. Q., Li S. Y., Yu T. J., Zeng Y., Zhao J., Yang S. M., Wu Y. Q., Xue C. F., Yang G. Q., Li Y., ACS Appl. Polym. Mater., 2019, 1(3), 526 [34] Shirota Y., J. Mater. Chem., 2000, 10(1), 1 [35] Liao Y. Y., Liu J. H., J. Appl. Polym. Sci., 2008, 109(6), 3849 [36] Kozawa T., Jpn. J. Appl. Phys., 2015, 54, 016502 [37] Kozawa T., Jpn. J. Appl. Phys., 2012, 51, 06FC01 [38] Saeki A., Kozawa T., Tagawa S., Cao H., Deng H., Leeson M., J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS, 2007, (4), 043004 [39] Jouve A., Simon J., Foucher J., David T. Jouve A., Simon J., Foucher J., David T. Proc. SPIE, 2005, 5753, 720 [40] Thackeray J., J. Micro/Nanolith. MEMS MOEMS., 2011, 10(3), 033009 [41] Maeda N., Konda A., Okamoto K., Kozawa T., Tamura T., Jpn. J. Appl. Phys., 2020, 59(8), 086501 [42] Chini S. F., Amirfazli A., Langmuir, 2010, 26(16), 13707 [43] Kozawa T., Santillan J., Itani T., Proc. SPIE, 2013, 8679, 867913 |