[1] Matsuoka T., Proc. of SPIE, 2007, 6473, 647302
[2] Wang X. Q., Liu S. T., Ma N., Feng L., Chen G., Xu F., Tang N., Huang S., Chen K. J., Zhou S. Q., Shen B., Appl. Phys. Express, 2012, 5, 015502
[3] Wang X. Q., Che S. B., Ishitani Y., Yoshikawa A., J. Appl. Phys., 2006, 99, 073512
[4] Xie Z. L., Zhang R., Liu B., Li L., Liu C. X., Xiu X. Q., Zhao H., Han P., Gu S. L., Shi Y., Zheng Y. D., J. Crys. Growth, 2007, 298, 409
[5] Dinh D. V., Pristovsek M., Solopow S., Skuridina D., Kneissl M., Phys. Status Solidi C, 2012 9(3/4), 977
[6] Tuna Ö., Behmenburg H., Giesen C., Kalisch H., Jansen R. H., Yablonskii G. P., Heuken M., Phys. Status Solidi C, 2011, 8(7/8), 2044
[7] Yang C. B., Wang X. L., Xiao H. L., Zhang X. B., Hu G. X., Ran J. X., Wang C. M., Li J. P., Li J. M., Wang Z. G., Appl. Surf. Sci., 2008, 255, 3149
[8] Wang K., Araki T., Takeuchi M., Yoon E., Nanishi Y., Appl. Phys. Lett., 2014, 104, 032108
[9] Zhang Y. T., Liu Y. H., Kimura T., Hirata M., Prasertusk K., Ji S. Y., Katayama R., Matsuoka T., Phys. Status Solidi C, 2011, 8(2), 482
[10] Zhang Y. T., Kimura T., Prasertusk K., Iwabuchi T., Kumar S., Liu Y. H., Katayama R., Matsuoka T., Thin Solid Films, 2013, 536, 152
[11] Wang W. J., Sugita K., Nagai Y., Houchin Y., Hashimoto A., Yamamoto A., Phys. Status Solidi C, 2007, 4(7), 2415
[12] Jain A., Weng X. J., Raghavan S., VanMil Brenda L., Myers T., Redwing J. M., J. Appl. Phys., 2008, 104, 053112
[13] Akyol F., Nath D. N., Krishnamoorthy S., Park P. S., Rajan S., Appl. Phys. Lett., 2012, 100, 111118
[14] Dietz N., Alevli M., Atalay R., Durkaya G., Collazo R., Tweedie J., Mita S., Sitar Z., Appl. Phys. Lett., 2008, 92, 041911
[15] Kirste R., Wagner M. R., Schulze J. H., Strittmatter A., Collazo R., Sitar Z., Alevli M., Dietz N., Hoffmann A., Phys. Status Solidi A, 2010, 207(10), 2351
[16] Fareed R. S. Q., Jain R., Gaska R., Shur M. S., Wu J., Walukiewicz W., Khan M. A., Appl. Phys. Lett., 2004, 84, 1892
[17] Johnson M. C., Konsek S. L., Zett A., Bourret-Courchesne E. D., J. Crys. Growth, 2004, 272, 400
[18] Jamil M., Zhao H. P., Higgins J. B., Tansu N., Phys. Status Solidi A, 2008, 205(12), 2886
[19] Jamil M., Zhao H. P., Higgins J. B., Tansu N., J. Crys. Growth, 2008, 310, 4947
[20] Kadys A., Malinauskas T., Grinys T., Dmukauskas M., Mickevi?ius J., Aleknavi?ius J., Tomašiūnas R., Selskis A., Kondrotas R., Stanionyt? S., Lugauer H., Strassburg M., J. Electron. Mater., 2015, 44(1), 2015
[21] Zhou J., Huang Q. C., Li J. C., Cai D. J., Kang J. Y., Nanoscale Res. Lett., 2014, 9, 5
[22] Yamamoto A., Sugita K., Takatsuka H., Hashimoto A., Davydov V. Y., J. Crys. Growth, 2004, 261, 275
[23] Wang X. Q., Che S. B., Ishitani Y., Yoshikawa A., Appl. Phys. Lett., 2007, 90, 151901
[24] Huang Q. C., Li S. P., Cai D. J., Kang J. Y., J. Appl. Phys., 2012, 111, 113528
[25] Zhang Y. W., Wang X. Q., Zheng X. T., Chen G., Ma D. Y., Xu F. J., Tang N., Ge W. K., Shen B., Appl. Phys. Express, 2013, 6, 021001 |